Zapytanie ofertowe Nr 05/R/FENG/2026 na świadczenie usług Specjalisty ds. inżynierii materiałowej i preparatyki próbek w ramach projektu pn. „Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii”
Notice description
Powstaje w kontekście projektu:
FENG.01.01-IP.01-A0IP/24 - Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii
Przedmiotem zamówienia jest świadczenie usług Specjalisty ds. inżynierii materiałowej i preparatyki próbek w ramach prac badawczo-rozwojowych realizowanych w projekcie.
Osoba świadcząca usługi będzie uczestniczyła w pracach B+R obejmujących badania proszków oraz badania właściwości, struktury i możliwości zastosowania materiałów do konstrukcji czujnika mikrosił, w tym w pracach związanych z doborem właściwego materiału z grupy materiałów najbardziej odpornych na dryf temperaturowy na kluczowe elementy czujnika mikrosił.
Do zakresu zadań będzie należało w szczególności:
• przygotowywanie próbek materiałowych do badań mikrostrukturalnych, mechanicznych i powierzchniowych;
• opracowywanie i dobór procedur preparatyki powierzchni próbek, w tym cięcia, inkludowania, szlifowania, polerowania mechanicznego oraz polerowania końcowego;
• wykonywanie preparatyki powierzchni próbek z uwzględnieniem konieczności ograniczenia wpływu naprężeń własnych, deformacji warstwy przypowierzchniowej oraz artefaktów przygotowania;
• przygotowywanie próbek do obserwacji mikroskopowych, w szczególności do badań SEM/EDS oraz analiz mikrostruktury warstwy wierzchniej;
• wykonywanie obserwacji i analiz materiałowych z wykorzystaniem mikroskopii optycznej oraz skaningowej mikroskopii elektronowej;
• analiza jakości powierzchni, jednorodności mikrostruktury, obecności defektów, nieciągłości, zanieczyszczeń oraz zmian zachodzących w warstwie wierzchniej materiałów;
• przygotowywanie próbek do badań właściwości mechanicznych, tribologicznych, adhezyjnych i powierzchniowych, odpowiednio do zakresu prowadzonych prac B+R;
• udział w opracowywaniu i optymalizacji procedur modyfikacji powierzchni, w tym metod związanych z inżynierią powierzchni, nanoszeniem warstw oraz przygotowaniem powierzchni do dalszych procesów technologicznych;
• wykonywanie prac związanych z osadzaniem galwanicznym metali i stopów, przygotowaniem podłoży oraz oceną jakości otrzymanych warstw;
• udział w badaniach właściwości i struktury materiałów oraz ocenie możliwości ich zastosowania w konstrukcji czujnika mikrosił;
• udział w analizie materiałów pod kątem odporności na dryf temperaturowy oraz w doborze materiału na kluczowe elementy czujnika mikrosił;
• dokumentowanie przebiegu prac, parametrów procesów i wyników badań oraz przygotowywanie zestawień i opisów technicznych na potrzeby realizacji projektu;
• współpraca z zespołem B+R w zakresie interpretacji wyników badań materiałowych i doboru dalszych procedur badawczych.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: mazowieckie, Powiat: Warszawa, Gmina: Ochota, Miejscowość: Warszawa
FENG.01.01-IP.01-A0IP/24 - Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii
Przedmiotem zamówienia jest świadczenie usług Specjalisty ds. inżynierii materiałowej i preparatyki próbek w ramach prac badawczo-rozwojowych realizowanych w projekcie.
Osoba świadcząca usługi będzie uczestniczyła w pracach B+R obejmujących badania proszków oraz badania właściwości, struktury i możliwości zastosowania materiałów do konstrukcji czujnika mikrosił, w tym w pracach związanych z doborem właściwego materiału z grupy materiałów najbardziej odpornych na dryf temperaturowy na kluczowe elementy czujnika mikrosił.
Do zakresu zadań będzie należało w szczególności:
• przygotowywanie próbek materiałowych do badań mikrostrukturalnych, mechanicznych i powierzchniowych;
• opracowywanie i dobór procedur preparatyki powierzchni próbek, w tym cięcia, inkludowania, szlifowania, polerowania mechanicznego oraz polerowania końcowego;
• wykonywanie preparatyki powierzchni próbek z uwzględnieniem konieczności ograniczenia wpływu naprężeń własnych, deformacji warstwy przypowierzchniowej oraz artefaktów przygotowania;
• przygotowywanie próbek do obserwacji mikroskopowych, w szczególności do badań SEM/EDS oraz analiz mikrostruktury warstwy wierzchniej;
• wykonywanie obserwacji i analiz materiałowych z wykorzystaniem mikroskopii optycznej oraz skaningowej mikroskopii elektronowej;
• analiza jakości powierzchni, jednorodności mikrostruktury, obecności defektów, nieciągłości, zanieczyszczeń oraz zmian zachodzących w warstwie wierzchniej materiałów;
• przygotowywanie próbek do badań właściwości mechanicznych, tribologicznych, adhezyjnych i powierzchniowych, odpowiednio do zakresu prowadzonych prac B+R;
• udział w opracowywaniu i optymalizacji procedur modyfikacji powierzchni, w tym metod związanych z inżynierią powierzchni, nanoszeniem warstw oraz przygotowaniem powierzchni do dalszych procesów technologicznych;
• wykonywanie prac związanych z osadzaniem galwanicznym metali i stopów, przygotowaniem podłoży oraz oceną jakości otrzymanych warstw;
• udział w badaniach właściwości i struktury materiałów oraz ocenie możliwości ich zastosowania w konstrukcji czujnika mikrosił;
• udział w analizie materiałów pod kątem odporności na dryf temperaturowy oraz w doborze materiału na kluczowe elementy czujnika mikrosił;
• dokumentowanie przebiegu prac, parametrów procesów i wyników badań oraz przygotowywanie zestawień i opisów technicznych na potrzeby realizacji projektu;
• współpraca z zespołem B+R w zakresie interpretacji wyników badań materiałowych i doboru dalszych procedur badawczych.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: mazowieckie, Powiat: Warszawa, Gmina: Ochota, Miejscowość: Warszawa
Time limit for receipt of tenders
2026-07-24 21:59:59.0
Location
Kraj: Polska, Województwo: mazowieckie, Powiat: Warszawa, Gmina: Ochota, Miejscowość: Warszawa
Category assortment
Measurements, tests and technical acceptance
Market research and development
Market research and development
Buyer details
PIK Instruments Sp. z o.o.
Źródlana 9
05-090 Laszczki
Województwo: mazowieckie
Kraj: Polska
NIP: 1231377998
Źródlana 9
05-090 Laszczki
Województwo: mazowieckie
Kraj: Polska
NIP: 1231377998
