Laboratoryjne usługi badawcze
Notice description
Powstaje w kontekście projektu:
FENG.05.01-IP.01-001P/25 - Opracowanie addytywnej technologii integracji fotonicznych układów scalonych dla zastosowań w sztucznej inteligencji
Część 1
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 1: Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
Część 2
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 2: Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM z EDS)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 3
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 3: Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
Część 4
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 4: Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM z EDS)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 5
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 5: Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM/FIB-Ga)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
Część 6
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 6: Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM/FIB-Xe)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 7
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 7: Usługa CT – skanowanie próbki
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 8
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 8: Pomiary AFM – Atomic Force Microscopy
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
Część 9
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 9: Profilometria stykowa
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 10
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 10: Termograwimetria (TGA)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
FENG.05.01-IP.01-001P/25 - Opracowanie addytywnej technologii integracji fotonicznych układów scalonych dla zastosowań w sztucznej inteligencji
Część 1
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 1: Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
Część 2
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 2: Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM z EDS)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 3
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 3: Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
Część 4
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 4: Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM z EDS)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 5
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 5: Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM/FIB-Ga)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
Część 6
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 6: Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM/FIB-Xe)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 7
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 7: Usługa CT – skanowanie próbki
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 8
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 8: Pomiary AFM – Atomic Force Microscopy
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
Część 9
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 9: Profilometria stykowa
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Część 10
Zamówienie obejmuje wykonanie badań, pomiarów i usług badawczych w podziale na 10 części.
Część 10: Termograwimetria (TGA)
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia dla każdej części znajduje się w zapytaniu ofertowym nr STEP/2026/01.
Miejsce realizacji
Kraj: Polska, Województwo: dolnośląskie, Powiat: Wrocław, Gmina: Wrocław-Fabryczna, Miejscowość: Wrocław
Cała polska
Time limit for receipt of tenders
2026-07-30 21:59:59.0
Location
Kraj: Polska
Category assortment
Measurements, tests and technical acceptance
Market research and development
Market research and development
Buyer details
XTPL S.A.
Legnicka 48E
54-202 Wrocław
Województwo: dolnośląskie
Kraj: Polska
NIP: 9512394886
Legnicka 48E
54-202 Wrocław
Województwo: dolnośląskie
Kraj: Polska
NIP: 9512394886