Dostawa systemów do bezdotykowego pomiaru grubości kryształów azotku galu (GaN)
Notice description
Przedmiotem zamówienia jest dostawa:
• 6 identycznych systemów do jednostronnego, bezdotykowego pomiaru grubości kryształów i podłoży z azotku galu (GaN)
• 1 systemu do dwustronnego, jednoczesnego pomiaru grubości kryształów z azotku galu (GaN), wyposażonego w dwa czujniki (góra/dół)
Urządzenia przeznaczone będą do pomiarów grubości kryształów GaN na różnych etapach obróbki technologicznej, w tym również kryształów przyklejonych do metalowych nośników oraz wafli w jakości epi-ready.
Systemy muszą umożliwiać pomiary bezdotykowe, eliminujące ryzyko uszkodzenia, zarysowania, zabrudzenia lub upadku badanego materiału (GaN jest materiałem kruchym).
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowi punkt 3 SWZ
• 6 identycznych systemów do jednostronnego, bezdotykowego pomiaru grubości kryształów i podłoży z azotku galu (GaN)
• 1 systemu do dwustronnego, jednoczesnego pomiaru grubości kryształów z azotku galu (GaN), wyposażonego w dwa czujniki (góra/dół)
Urządzenia przeznaczone będą do pomiarów grubości kryształów GaN na różnych etapach obróbki technologicznej, w tym również kryształów przyklejonych do metalowych nośników oraz wafli w jakości epi-ready.
Systemy muszą umożliwiać pomiary bezdotykowe, eliminujące ryzyko uszkodzenia, zarysowania, zabrudzenia lub upadku badanego materiału (GaN jest materiałem kruchym).
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowi punkt 3 SWZ
Time limit for receipt of tenders
2026-03-25 10:00:00.0
Location
ul. Sokołowska 29/37
01-142 Warszawa
Województwo: mazowieckie
Polska
01-142 Warszawa
Województwo: mazowieckie
Polska
Category assortment
Measuring equipment and monitoring systems
Buyer details
INSTYTUT WYSOKICH CIŚNIEŃ POLSKIEJ AKADEMII NAUK
ul. Sokołowska 29/37
01-142 Warszawa
Województwo: mazowieckie
Polska
ul. Sokołowska 29/37
01-142 Warszawa
Województwo: mazowieckie
Polska
